AHA2012：长期快速性房性心律患者预后差

洛杉矶讯--在心脏节律管理设备群体的房性心动过速和心房颤动注册表中显示长期存在的房性心动过速和心房颤动与安装心脏节律管理设备患者的不良事件的高风险有关。

Steven Swiryn博士在上周举行的美国心脏病学会2012年科学会议上发布来自RATE的研究结果。结果显示，安装了心脏节律控制设备的患者只会发生短期的AT或AF，这些病人发生不良事件的风险与其他类似的不会出现AT或AF的患者相似。然而，Swiryn发布的数据显示，长期存在AT或AF与安装了ICD和起搏器的患者因发生AT或AF住院的高风险有关。发生AT或AF的高频率与不良事件的高风险和安装了ICD的患者因AF入院的高风险有关。

Bernard Gersh博士（梅约诊疗中心，罗彻斯特市，明尼苏达州）在RATE报告的答辩中指出，RATE的结果似乎确认了ASSERT的发现——起搏器患者的亚房性心律失常是中风或是全身性栓塞的常见和十分明显的预测。Gersh提到，这是一个可能真正改变临床实践的十分重要的贡献。梅约诊疗中心的数据显示，中风经常是心房颤动的第一个临床表现。他认为存在发生AF风险的患者甚至在表现出房性心律不齐的症状前就需要进行治疗，从而预防中风。

发作时间更长，发作次数越多增加风险

从2007到2012年，RATE招募和随访了5379名安装了心脏节律控制设备的的患者，这其中包括3141名安装起搏器的患者和2238名安装ICD的患者。平均随访大约2年，在这期间，RATE通过20153份心电图收集证据。在这项研究中，2232人住院（大约是研究群体的半数），11名人在住院期间死亡，另外还有350名院外死亡患者没有全部被证实。有两个评审员的小组评估了600名随机选出来的患者的心电图，（这600名患者中300名患者安装了起搏器并且300名患者安装了ICD）并且观察者间的协议是很高的。

短期阶段的定义是以一个心电图追踪开始和结束的AT或AF发作阶段，而长期阶段是指一个以上的心电图追踪的发作阶段。

安装起搏器的患者的多元逻辑回归分析显示，与没有发生AT或AF的患者相比，长期存在AT或AF的患者发生全部不良事件（包括因AF、心力衰竭、室性心动过速、中风住院或是短暂性脑缺血发作、眩晕、院内心脏猝死）的风险要高得多。仅仅是与因AF住院或是因心衰住院有关的长期存在的AT或AF没有统计学意义。与不存在AF或AF的患者相比，存在短期AT或AF的患者，发生不良事件的风险并未增加。

在安装了ICD的患者中，与不存在长期AT或AF的患者相比，存在长期AT或AF的患者发生全部不良事件的风险更高。短期存在的AT或AF也与ICD患者的因AF入院的高风险有很大关系。短期AT或AF与ICD患者的高风险无关。

与那些在单独AT或AF中位数以下的患者相比，不只是存在单独AT或AF中位数的ICD患者发生所有不良事件的风险更高。但是，更为频繁发作的AT或AF与因心力衰竭住院的有统计学意义的高风险无关。

Gersh认为，AT或AF的更具体的测量将会对’心房颤动负荷’提供有一个更好的理解。Gersh提到，如果你发作一次持续50个小时，是不是意味着一个小时发作50次呢。这些数字是我们需要了解的，因为毫无疑问，当我们使用这些设备时候，我们将会看到越来越多的隐秘性心房颤动。他补充说，进一步研究可能显示对于有发生AF风险因素的患者来说，临床隐秘性心房颤动的发生率是很显著的，但是对于安装了ICD或是起搏器的患者来说，其发生率就不是很显著了。这些患者应该考虑进行抗凝治疗从而预防中风。